測試夾具要求：可實(shí)現XYZ移動(dòng)； 高低溫探針臺的詳細介紹測試腔：同時(shí)滿(mǎn)足靜態(tài)/動(dòng)態(tài)測試，304不銹鋼材質(zhì)，可在紫外燈下保證氣密性測試； 測試樣品數：同時(shí)測試8個(gè)樣品，可進(jìn)行頻率-阻抗測試、插指電極和場(chǎng)效應管測試；

分子泵≤10-3Pa真空探針臺主要應用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

低溫-196-350℃真空探針臺 鄭科探廠(chǎng)家主要應用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

高溫35-350℃真空探針臺主要應用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

真空探針臺測試設備 高低溫測試臺探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng)，三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調節，其中X方向調節范圍：0－30mm；y方向調節范圍：0－20mm；z方向調節范圍：0－20mm；用戶(hù)可根據需要自行調節。使用時(shí)將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探針支架X/Y/Z 方向行程，通過(guò)顯微鏡觀(guān)察，使探針對準檢測點(diǎn)后，即可進(jìn)行