電極的對數對叉指電極傳感器信噪比的大小基本沒(méi)有影響。叉指電極間距的減小可以使信噪比增大的同時(shí)提高信號幅。如應用于化學(xué)傳感領(lǐng)域，叉指電極間距的減小還可以有效地提高化學(xué)反應的速率、加快建立反應進(jìn)行過(guò)程，從而能夠提高傳感器性能，并縮短叉指電極傳感器反應的時(shí)間。叉指電極傳感器的電極寬度的減小在提高信噪比的同時(shí)會(huì )使檢測信號的幅值降低。柔性叉指電極微型探針臺是一款專(zhuān)門(mén)用于叉指電極的經(jīng)濟型探針臺。

小型真空探針臺高溫熱臺KT-0904T-R主要用于為被測芯片提供一個(gè)高溫的變溫測量環(huán)境，以便測量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來(lái)的測試結果誤差。

叉指電極傳感器主要包括四個(gè)結構參數，分別為:叉指電極對的對數、叉指寬度、相鄰叉指之間的間隙距離以及叉指電極的厚度。這四個(gè)參數對基于叉指電極的生化傳感器關(guān)鍵性能指標都有很大影響。硅基叉指電極結構高低溫探針臺KT-Z4019MRL4T是用于叉指電極的一款性?xún)r(jià)比很高的探針臺，可進(jìn)行高溫和低溫，采用純銀熱臺，有導熱更好，不易氧化等特點(diǎn)。

高溫熱臺小型真空探針臺KT-0904T-R在高溫真空環(huán)境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的IV/CV特性測試、霍爾測試、電磁輸運特性、高頻特性測試等

微間距的叉指電極是一種為常用的微間距電極結構，它被廣泛的應用于非破壞性測試、電子通訊、化學(xué)測試等多個(gè)領(lǐng)域。 一般來(lái)說(shuō)，不同的應用領(lǐng)域對于叉指電極的形狀、幾何學(xué)尺寸、加工工藝、材料的選擇、建模分析、系統集成以及數據的分析都有不同的要求，因此對于不同的領(lǐng)域我們應該區分對待。硅基叉指電極微型探針臺KT-Z4019MRL4T是一款專(zhuān)門(mén)用于叉指電極的經(jīng)濟型探針臺。