鄭科探高溫400℃ 低-190℃ 微型真空探針冷臺 測試噪聲小于5E-13A 可擴展上下雙透視窗口用于光電測試 可擴展凹視鏡 用于拉曼光譜測試 探針腔體可達真空0.1pa（機械泵） 1E-3Pa（分子泵）可用于光學(xué) 氣敏 濕敏 壓敏材料 電化學(xué)測試

氣體傳感器測試腔不銹鋼真空探針臺 探針臺主要應用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本

低溫測試探針臺主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為φ30，臺面最高可升溫到最高400℃。臺面四周裝有微型3軸可移動(dòng)鎢鋼探針，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。該腔體設計有進(jìn)氣口和抽真空接口其真空度用機械泵可達＜5Pa分子泵可達＜-3Pa。真空信號連接處使用高級真空電極信號接頭，保證氣密性及抗干擾性

KT-Z1604T型號真空探針臺 鄭科探廠(chǎng)家應用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

半導體測試探針臺是一款適用于4-6英寸晶圓測試的基本型探針臺，結構緊湊，配置豐富，可搭配中體式或視頻顯微鏡，實(shí)用且性?xún)r(jià)比高，非常適合高校、研究機構、半導體工廠(chǎng)等實(shí)驗室的半導體測試應用，模塊化結構設計，支持后期靈活擴展升級。